在試驗總的各種干擾，會降低局部放電試驗的檢測靈敏度，試驗時，應使干擾水平抑制到最低水平。干擾類型通常有：電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、試驗設備各元件的放電干擾及各類接觸干擾。 

1、電源干擾。檢測儀及試驗變壓器所用的電源是與低壓配電網(wǎng)相連的，配電網(wǎng)內(nèi)的各種高頻信號均能直接產(chǎn)生干擾。因此，通常采用屏蔽式電源隔離變壓器及低通濾波器抑制，效果甚好。 

2、接地干擾。試驗回路接地方式不當，例如兩點及以上接地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中，各種高頻信號會經(jīng)接地線耦合到試驗回路產(chǎn)生干擾。這種干擾一般與試驗電壓高低無關。試驗回路采用一點接地，可降低這種干擾。 

3、電磁輻射干擾。鄰近高壓帶電設備或高壓輸電線路，無線電發(fā)射器及其它諸如可控硅、電刷等試驗回路以外的高頻信號，均會以電磁感應、電磁輻射的形式經(jīng)雜散電容或雜散電感耦合到試驗回路，它的波形往往與試品內(nèi)部放電不易區(qū)分，對現(xiàn)場測量影響較大。其特點是與試驗電壓無關。消除這種干擾的根本對策是將試品置于屏蔽良好的試驗室。采用平衡法、對稱法和模擬天線法的測試回路，也能抑制輻射干擾。 

4、懸浮電位放電干擾。鄰近試驗回路的不接地金屬物產(chǎn)生的感應懸浮電位放電，也是常見的一種干擾。其特點是隨試驗電壓升高而增大，但其波形一般較易識別。消除的對策一是搬離，二是接地。 

5、電暈放電和各連接處接觸放電的干擾。電暈放電產(chǎn)生于試驗回路處于高電位的導電部分，例如試品的法蘭、金屬蓋帽、試驗變壓器、耦合電容器端部及高壓引線等尖端部分。試驗回路中由于各連接處接觸不良也會產(chǎn)生接觸放電干擾。這兩種干擾的特性是隨試驗電壓的升高而增大。消除這種干擾是在高壓端部采用防暈措施(如防暈環(huán)等)，高壓引線采用無暈的導電圓管，以及保證各連接部位的良 好接觸等。 

6、試驗變壓器和耦合電容器內(nèi)部放電干擾。這種放電容易和試品內(nèi)部放電相混淆。因此，使用的試驗變壓器和耦合電容器的局部放電水平應控制在一定的允許量以下。